Oblea epitaxial de nitruro de galio de 100 mm y 4 pulgadas de GaN sobre zafiro

Descripción breve:

La lámina epitaxial de nitruro de galio es un representante típico de la tercera generación de materiales epitaxiales semiconductores de banda ancha, que tiene excelentes propiedades como banda ancha, alta intensidad de campo de ruptura, alta conductividad térmica, alta velocidad de deriva de saturación de electrones, fuerte resistencia a la radiación y alta estabilidad química.


Características

Proceso de crecimiento de la estructura de pozo cuántico del LED azul de GaN. El flujo detallado del proceso es el siguiente.

(1) Horneado a alta temperatura, el sustrato de zafiro se calienta primero a 1050 ℃ en una atmósfera de hidrógeno, el propósito es limpiar la superficie del sustrato;

(2) Cuando la temperatura del sustrato desciende a 510 ℃, se deposita una capa amortiguadora de GaN/AlN de baja temperatura con un espesor de 30 nm sobre la superficie del sustrato de zafiro;

(3) Aumento de temperatura a 10 ℃, se inyectan el gas de reacción amoníaco, trimetilgalio y silano, controlan respectivamente el caudal correspondiente y se cultiva el GaN tipo N dopado con silicio de 4 um de espesor;

(4) El gas de reacción de trimetilaluminio y trimetilgalio se utilizó para preparar continentes A⒑ de tipo N dopados con silicio con un espesor de 0,15 um;

(5) Se preparó InGaN dopado con Zn de 50 nm inyectando trimetilgalio, trimetilindio, dietilzinc y amoníaco a una temperatura de 800 °C y controlando diferentes caudales respectivamente;

(6) La temperatura se incrementó a 1020 ℃, se inyectaron trimetilaluminio, trimetilgalio y bis (ciclopentadienil) magnesio para preparar 0,15 um de AlGaN tipo P dopado con Mg y 0,5 um de glucosa en sangre G tipo P dopada con Mg;

(7) La película Sibuyan de GaN tipo P de alta calidad se obtuvo mediante recocido en atmósfera de nitrógeno a 700 ℃;

(8) Grabado en la superficie de estasis G de tipo P para revelar la superficie de estasis G de tipo N;

(9) Evaporación de placas de contacto Ni/Au en la superficie p-GaNI, evaporación de placas de contacto △/Al en la superficie ll-GaN para formar electrodos.

Presupuesto

Artículo

GaN-TCU-C100

GaN-TCN-C100

Dimensiones

y 100 mm ± 0,1 mm

Espesor

4,5 ± 0,5 um Se puede personalizar

Orientación

Plano C(0001) ±0,5°

Tipo de conducción

Tipo N (sin dopar)

Tipo N (dopado con Si)

Resistividad (300 K)

< 0,5 Q·cm

< 0,05 Q·cm

Concentración de portadores

< 5x1017centímetro-3

> 1x1018centímetro-3

Movilidad

~300 centímetros2/Vs

~ 200 centímetros2/Vs

Densidad de dislocación

Menos de 5x108centímetro-2(calculado por FWHM de XRD)

Estructura del sustrato

GaN sobre zafiro (estándar: SSP, opción: DSP)

Área de superficie utilizable

> 90%

Paquete

Envasado en sala limpia clase 100, en casetes de 25 unidades o en contenedores de obleas individuales, bajo atmósfera de nitrógeno.

Diagrama detallado

WechatIMG540_
WechatIMG540_
vav

  • Anterior:
  • Próximo:

  • Escribe tu mensaje aquí y envíanoslo