Oblea de zafiro de 300 x 1,0 mm de grosor, plano C, SSP/DSP

Descripción breve:

Shanghai Xinkehui New Material Co., Ltd. produce obleas de zafiro con diversas orientaciones superficiales (planos c, r, a y m) y controla el ángulo de corte con una precisión de 0,1 grados. Gracias a nuestra tecnología patentada, logramos la alta calidad necesaria para aplicaciones como el crecimiento epitaxial y la unión de obleas.


Detalle del producto

Etiquetas de productos

Introducción de la caja de obleas

Materiales de cristal 99,999 % de Al2O3, alta pureza, monocristalino, Al2O3
Calidad del cristal Inclusiones, marcas de bloque, maclas, color, microburbujas y centros de dispersión son inexistentes.
Diámetro 2 pulgadas 3 pulgadas 4 pulgadas 6 pulgadas ~ 12 pulgadas
50,8 ± 0,1 mm 76,2 ± 0,2 mm 100 ± 0,3 mm De acuerdo con las disposiciones de la producción estándar
Espesor 430 ± 15 µm 550 ± 15 µm 650 ± 20 µm Puede ser personalizado por el cliente.
Orientación Plano C (0001) a plano M (1-100) o plano A (1 1-2 0) 0,2 ± 0,1° / 0,3 ± 0,1°, plano R (1-1 0 2), plano A (1 1-2 0 ), plano M (1-1 0 0), cualquier orientación, cualquier ángulo
Longitud plana primaria 16,0 ± 1 mm 22,0 ± 1,0 mm 32,5 ± 1,5 mm De acuerdo con las disposiciones de la producción estándar
Orientación del piso primario Plano A (1 1-2 0 ) ± 0,2°      
Televisión por cable ≤10 µm ≤15 µm ≤20 µm ≤30 µm
Valor de vida útil ≤10 µm ≤15 µm ≤20 µm ≤30 µm
TIR ≤10 µm ≤15 µm ≤20 µm ≤30 µm
ARCO ≤10 µm ≤15 µm ≤20 µm ≤30 µm
Urdimbre ≤10 µm ≤15 µm ≤20 µm ≤30 µm
Superficie frontal Epi-pulido (Ra < 0,2 nm)

*Arco: La desviación del punto central de la superficie media de una oblea libre y sin sujetar con respecto al plano de referencia, donde el plano de referencia está definido por las tres esquinas de un triángulo equilátero.

*Deformación: La diferencia entre las distancias máxima y mínima de la superficie media de una oblea libre y sin sujetar desde el plano de referencia definido anteriormente.

Productos y servicios de alta calidad para dispositivos semiconductores de próxima generación y crecimiento epitaxial:

Alto grado de planitud (TTV controlado, curvatura, urdimbre, etc.)

Limpieza de alta calidad (baja contaminación por partículas, baja contaminación por metales)

Perforación, ranurado, corte y pulido posterior del sustrato

Adjunto datos como limpieza y forma del sustrato (opcional)

Si necesita sustratos de zafiro, no dude en contactarnos:

correo:eric@xkh-semitech.com+86 158 0194 2596 /doris@xkh-semitech.com+86 187 0175 6522

¡Nos pondremos en contacto con usted lo antes posible!

Diagrama detallado

vcs (2)
vcs (1)

  • Anterior:
  • Próximo:

  • Escribe tu mensaje aquí y envíanoslo