Oblea epitaxial de nitruro de galio sobre zafiro de 100 mm (4 pulgadas)

Descripción breve:

La lámina epitaxial de nitruro de galio es un representante típico de la tercera generación de materiales semiconductores epitaxiales de banda prohibida ancha, que posee excelentes propiedades como banda prohibida ancha, alta rigidez dieléctrica, alta conductividad térmica, alta velocidad de deriva de saturación de electrones, fuerte resistencia a la radiación y alta estabilidad química.


Características

Proceso de crecimiento de la estructura de pozo cuántico del LED azul de GaN. El flujo de proceso detallado es el siguiente:

(1) Horneado a alta temperatura, el sustrato de zafiro se calienta primero a 1050 ℃ en una atmósfera de hidrógeno, con el propósito de limpiar la superficie del sustrato;

(2) Cuando la temperatura del sustrato baja a 510 ℃, se deposita una capa amortiguadora de GaN/AlN de baja temperatura con un espesor de 30 nm sobre la superficie del sustrato de zafiro;

(3) Se eleva la temperatura a 10 ℃, se inyectan los gases de reacción amoníaco, trimetilgalio y silano, controlando respectivamente el caudal correspondiente, y se hace crecer GaN tipo N dopado con silicio de 4 µm de espesor;

(4) El gas de reacción de trimetilaluminio y trimetilgalio se utilizó para preparar continentes A⒑ de tipo N dopados con silicio con un espesor de 0,15 µm;

(5) Se preparó InGaN dopado con Zn de 50 nm inyectando trimetilgalio, trimetilindio, dietilzinc y amoníaco a una temperatura de 800 ℃ y controlando diferentes caudales respectivamente;

(6) La temperatura se elevó a 1020 ℃, se inyectaron trimetilaluminio, trimetilgalio y bis(ciclopentadienil)magnesio para preparar AlGaN tipo P dopado con Mg de 0,15 µm y glucosa en sangre G tipo P dopada con Mg de 0,5 µm;

(7) Se obtuvo una película de GaN Sibuyan de tipo P de alta calidad mediante recocido en atmósfera de nitrógeno a 700 ℃;

(8) Grabado en la superficie de estasis G de tipo P para revelar la superficie de estasis G de tipo N;

(9) Evaporación de placas de contacto de Ni/Au sobre la superficie de p-GaN, evaporación de placas de contacto de δ/Al sobre la superficie de ll-GaN para formar electrodos.

Presupuesto

Artículo

GaN-TCU-C100

GaN-TCN-C100

Dimensiones

e 100 mm ± 0,1 mm

Espesor

4,5 ± 0,5 µm. Se puede personalizar.

Orientación

Plano C(0001) ±0,5°

Tipo de conducción

Tipo N (sin dopar)

Tipo N (dopado con Si)

Resistividad (300 K)

< 0,5 Q·cm

< 0,05 Q·cm

Concentración del portador

< 5x1017centímetro-3

> 1x1018centímetro-3

Movilidad

~ 300 cm2/Vs

~ 200 cm2/Vs

Densidad de dislocación

Menos de 5x108centímetro-2(calculado mediante FWHM de XRD)

Estructura del sustrato

GaN sobre zafiro (Estándar: SSP Opción: DSP)

Superficie útil

> 90%

Paquete

Envasado en un entorno de sala limpia clase 100, en casetes de 25 unidades o en contenedores de obleas individuales, bajo atmósfera de nitrógeno.

Diagrama detallado

WechatIMG540_
WechatIMG540_
vav

  • Anterior:
  • Próximo:

  • Escribe tu mensaje aquí y envíanoslo.