Sustrato de SiC de 12 pulgadas, tipo N, gran tamaño, aplicaciones de RF de alto rendimiento
Parámetros técnicos
| Especificación del sustrato de carburo de silicio (SiC) de 12 pulgadas | |||||
| Calificación | Producción ZeroMPD Grado (Grado Z) | Producción estándar Calificación (Calificación P) | Grado ficticio (Calificación D) | ||
| Diámetro | 300 mm ~ 1305 mm | ||||
| Espesor | 4H-N | 750 μm ± 15 μm | 750 μm ± 25 μm | ||
| 4H-SI | 750 μm ± 15 μm | 750 μm ± 25 μm | |||
| Orientación de la oblea | Fuera del eje: 4,0° hacia <1120> ±0,5° para 4H-N; en el eje: <0001> ±0,5° para 4H-SI | ||||
| Densidad de micropipes | 4H-N | ≤0,4 cm⁻² | ≤4 cm-2 | ≤25 cm-2 | |
| 4H-SI | ≤5 cm-2 | ≤10 cm-2 | ≤25 cm-2 | ||
| Resistividad | 4H-N | 0,015~0,024 Ω·cm | 0,015~0,028 Ω·cm | ||
| 4H-SI | ≥1E10 Ω·cm | ≥1E5 Ω·cm | |||
| Orientación plana primaria | {10-10} ±5.0° | ||||
| Longitud plana primaria | 4H-N | N / A | |||
| 4H-SI | Muesca | ||||
| Exclusión de bordes | 3 mm | ||||
| LTV/TTV/Arco/Deformación | ≤5 μm/≤15 μm/≤35 μm/≤55 μm | ≤5μm/≤15μm/≤35 □ μm/≤55 □ μm | |||
| Aspereza | Pulido Ra≤1 nm | ||||
| CMP Ra≤0,2 nm | Ra ≤ 0,5 nm | ||||
| Grietas en los bordes por luz de alta intensidad Placas hexagonales iluminadas con luz de alta intensidad Áreas politípicas mediante luz de alta intensidad Inclusiones visuales de carbono Rayaduras en la superficie de silicio por luz de alta intensidad | Ninguno Área acumulada ≤0,05% Ninguno Área acumulada ≤0,05% Ninguno | Longitud acumulada ≤ 20 mm, longitud individual ≤ 2 mm Área acumulada ≤0,1% Área acumulada ≤3% Área acumulada ≤3% Longitud acumulada ≤ 1 × diámetro de la oblea | |||
| Desconchones en los bordes por luz de alta intensidad | Ninguno permitido ≥0,2 mm de ancho y profundidad | Se permiten 7, ≤1 mm cada una. | |||
| (TSD) Dislocación del tornillo de rosca | ≤500 cm-2 | N / A | |||
| (BPD) Dislocación del plano base | ≤1000 cm-2 | N / A | |||
| Contaminación de la superficie del silicio por luz de alta intensidad | Ninguno | ||||
| Embalaje | Casete multioblea o contenedor de oblea única | ||||
| Notas: | |||||
| 1 Los límites de defectos se aplican a toda la superficie de la oblea, excepto al área de exclusión del borde. 2Los arañazos deben comprobarse únicamente en la cara del Si. 3 Los datos de dislocación proceden únicamente de obleas grabadas con KOH. | |||||
Características clave
1. Ventaja de gran tamaño: El sustrato de SiC de 12 pulgadas (sustrato de carburo de silicio de 12 pulgadas) ofrece un área de oblea única mayor, lo que permite producir más chips por oblea, reduciendo así los costos de fabricación y aumentando el rendimiento.
2. Material de alto rendimiento: La resistencia a altas temperaturas y la alta rigidez dieléctrica del carburo de silicio hacen que el sustrato de 12 pulgadas sea ideal para aplicaciones de alto voltaje y alta frecuencia, como inversores de vehículos eléctricos y sistemas de carga rápida.
3. Compatibilidad de procesamiento: A pesar de la alta dureza y los desafíos de procesamiento del SiC, el sustrato de SiC de 12 pulgadas logra menores defectos superficiales a través de técnicas optimizadas de corte y pulido, lo que mejora el rendimiento del dispositivo.
4. Gestión térmica superior: Con una conductividad térmica mejor que la de los materiales basados en silicio, el sustrato de 12 pulgadas aborda eficazmente la disipación de calor en dispositivos de alta potencia, prolongando la vida útil del equipo.
Aplicaciones principales
1. Vehículos eléctricos: El sustrato de SiC de 12 pulgadas (sustrato de carburo de silicio de 12 pulgadas) es un componente central de los sistemas de accionamiento eléctrico de próxima generación, que permite inversores de alta eficiencia que mejoran el alcance y reducen el tiempo de carga.
2. Estaciones base 5G: Los sustratos de SiC de gran tamaño admiten dispositivos de RF de alta frecuencia, satisfaciendo las demandas de las estaciones base 5G de alta potencia y baja pérdida.
3. Fuentes de alimentación industriales: En inversores solares y redes inteligentes, el sustrato de 12 pulgadas puede soportar voltajes más altos al tiempo que minimiza la pérdida de energía.
4. Electrónica de consumo: Los futuros cargadores rápidos y fuentes de alimentación para centros de datos podrían adoptar sustratos de SiC de 12 pulgadas para lograr un tamaño compacto y una mayor eficiencia.
Servicios de XKH
Nos especializamos en servicios de procesamiento personalizados para sustratos de SiC de 12 pulgadas (sustratos de carburo de silicio de 12 pulgadas), incluyendo:
1. Corte y pulido: Procesamiento de sustratos de bajo daño y alta planitud adaptado a los requisitos del cliente, lo que garantiza un rendimiento estable del dispositivo.
2. Soporte para crecimiento epitaxial: Servicios de obleas epitaxiales de alta calidad para acelerar la fabricación de chips.
3. Prototipado en lotes pequeños: Apoya la validación de I+D para instituciones de investigación y empresas, acortando los ciclos de desarrollo.
4. Consultoría técnica: Soluciones integrales desde la selección de materiales hasta la optimización de procesos, ayudando a los clientes a superar los desafíos del procesamiento de SiC.
Ya sea para producción en masa o personalización especializada, nuestros servicios de sustrato de SiC de 12 pulgadas se adaptan a las necesidades de su proyecto, impulsando los avances tecnológicos.









